Onderzoeker
Johan Verbeeck
- Onderzoeksexpertise:Transmissie elektronenmicroscopie voor materiaalkunde Ontwikkeling van nieuwe meetprincipes met elektronenbundels Adaptieve optica met elektronenbundels Elektronen energieverlies spectroscopie
- Trefwoorden:ELEKTRONENMICROSCOPIE (TRANSMISSIE), ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY (EELS), Natuurkunde
- Disciplines:Astronomie en ruimtewetenschappen, Atoom- en moleculaire fysica, Klassieke fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Materiaalfysica, Mathematische fysica, Nucleaire fysica, Optische fysica, Fysica van gassen, plasma's en elektrische ladingen, Kwantumfysica, Andere fysica, Andere natuurwetenschappen
- Onderzoekstechnieken:TEM EELS EDX
- Gebruikers van onderzoeksexpertise:Academische onderzoekers Industriele O&O
Affiliaties
- Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf1 okt 2003 → Heden
Projecten
1 - 10 of 42
- Programma voor toegang tot onderzoeksfaciliteiten in nanowetenschap & nanotechnologie (RIANA)Vanaf1 mrt 2024 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Interoperabel elektronen microscopie platform voor geavanceerd onderzoek en dienstverlening (IMPRESS).Vanaf1 feb 2023 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Chemie 2.0: Grignard oppervlakmodificatie ontrafeldVanaf1 jan 2023 → HedenFinanciering: BOF - projecten
- EELS metingenVanaf1 dec 2022 → HedenFinanciering: Buitenl. publieke opdrachtgever
- Dynamica en structurele analyse van 2D materialen (DYNASTY)Vanaf1 nov 2022 → HedenFinanciering: HORIZON.4.1 - Verbreding van participatie en versterking van de Europese Onderzoeksruimte
- Femtoseconde pulsatie laser microbewerking voor ingenieurs-, materialen- en katalyseonderzoek.Vanaf1 mei 2022 → HedenFinanciering: FWO Middelzware apparatuur
- 'Strain' gestabiliseerde perovskieten: een geïntegreerde onderzoeksaanpak van hetfundamentele niveau tot de toepassing in opto-electronica (PERsist).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: BOF - iBOF
- Elektronenstralen ter verbetering van de analytische microscopie (EBEAM).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: H2020-EU.1.2.- EXCELLEN SCIENCE - Toekomstige en Nieuwe Technologieën (FET)
- Geautomatiseerde elektronen diffractometer voor hoge doorvoer identificatie van nanokristallijne materialen.Vanaf1 okt 2020 → HedenFinanciering: FWO Strategisch Basisonderzoek (SBO)
- Big data elektronenspectroscopie: elektronische en optische eigenschappen van materialen op basis van grote impulsgeresolveerd EELS datasets.Vanaf1 okt 2020 → 30 sep 2023Financiering: FWO senior postdoctoraal mandaat
Publicaties
41 - 50 van 286
- Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets(2021)
Auteurs: Thomas Friedrich, Chu-Ping Yu, Johan Verbeeck, Timothy Pennycook, Sandra Van Aert
Pagina's: 3453 - 3457 - Gate-tuned anomalous Hall effect driven by Rashba splitting in intermixed LaAlO₃/GdTiO₃/SrTiO₃(2021)
Auteurs: N. Lebedev, M. Stehno, A. Rana, P. Reith, Nicolas Gauquelin, Johan Verbeeck, H. Hilgenkamp, A. Brinkman, J. Aarts
- Fast electron low dose tomography for beam sensitive materials(2021)
Auteurs: Daniel Arenas Esteban, Hans Vanrompay, Alexander Skorikov, Armand Béché, Johan Verbeeck, Bert Freitag, Sara Bals
Pagina's: 2116 - 2118 - Optical versus electron diffraction imaging of Twist-angle in 2D transition metal dichalcogenide bilayers(2021)
Auteurs: S. Psilodimitrakopoulos, Andrey Orekhov, L. Mouchliadis, Daen Jannis, G.M. Maragkakis, G. Kourmoulakis, Nicolas Gauquelin, G. Kioseoglou, Johan Verbeeck, E. Stratakis
- Novel detection schemes for transmission electron microscopy(2021)
Auteurs: Daen Jannis, Johan Verbeeck
Aantal pagina's: 208 - Linearized radially polarized light for improved precision in strain measurements using micro-Raman spectroscopy(2021)
Auteurs: Viveksharma Prabhakara, T. Nuytten, H. Bender, W. Vandervorst, Sara Bals, Johan Verbeeck
Pagina's: 34531 - 34551 - Increased performance improvement of lithium-ion batteries by dry powder coating of high-nickel NMC with nanostructured fumed ternary lithium metal oxides(2021)
Auteurs: Marcel J. Herzog, Nicolas Gauquelin, Daniel Esken, Johan Verbeeck, Jürgen Janek
Pagina's: 8832 - 8848 - Strain measurement for semiconductor applications with Raman spectroscopy and Transmission electron microscopy(2021)
Auteurs: Viveksharma Prabhakara, Sara Bals, Johan Verbeeck, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 149 - Asymmetric interfacial intermixing associated magnetic coupling in LaMnO₃/LaFeO₃ heterostructures(2021)
Auteurs: Binbin Chen, Nicolas Gauquelin, Robert J. Green, Johan Verbeeck, Guus Rijnders, Gertjan Koster
- Coincidence detection of EELS and EDX spectral events in the electron microscope(2021)
Auteurs: Daen Jannis, Knut Müller-Caspary, Armand Béché, Johan Verbeeck
Patenten
1 - 9 van 9
- Phase retrieval in electron microscopy (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
Gelinkte datasets
1 - 10 van 14
- Supplementary Information for "In-situ Plasma Studies using a Direct Current Microplasma in a Scanning Electron Microscope" (Creator)
- Core-loss EELS dataset and neural networks for element identification (Creator)
- Generalised oscillator strength for core-shell electron excitation by fast electrons based on Dirac solutions (Creator)
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies. part I – experimental findings (Creator)
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies. part II – attempt towards an empirical model describing the damage process (Creator)
- Coincidence detection of EELS and EDX spectral events in the electron microscope (Creator)
- Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwelltime and faster scans for high precision and low dose applications (Creator)
- Coupling charge and topological reconstructions at polar oxide interfaces (Creator)
- Electron energy loss spectra of several organic compounds (Creator)
- Wide field of view crystal orientation mapping of layered materials (Creator)