Onderzoeker
Johan Verbeeck
- Onderzoeksexpertise:Transmissie elektronenmicroscopie voor materiaalkunde Ontwikkeling van nieuwe meetprincipes met elektronenbundels Adaptieve optica met elektronenbundels Elektronen energieverlies spectroscopie
- Trefwoorden:ELEKTRONENMICROSCOPIE (TRANSMISSIE), ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY (EELS), Natuurkunde
- Disciplines:Astronomie en ruimtewetenschappen, Atoom- en moleculaire fysica, Klassieke fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Materiaalfysica, Mathematische fysica, Nucleaire fysica, Optische fysica, Fysica van gassen, plasma's en elektrische ladingen, Kwantumfysica, Andere fysica, Andere natuurwetenschappen
- Onderzoekstechnieken:TEM EELS EDX
- Gebruikers van onderzoeksexpertise:Academische onderzoekers Industriele O&O
Affiliaties
- Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf1 okt 2003 → Heden
Projecten
1 - 10 of 42
- Programma voor toegang tot onderzoeksfaciliteiten in nanowetenschap & nanotechnologie (RIANA)Vanaf1 mrt 2024 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Interoperabel elektronen microscopie platform voor geavanceerd onderzoek en dienstverlening (IMPRESS).Vanaf1 feb 2023 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Chemie 2.0: Grignard oppervlakmodificatie ontrafeldVanaf1 jan 2023 → HedenFinanciering: BOF - projecten
- EELS metingenVanaf1 dec 2022 → HedenFinanciering: Buitenl. publieke opdrachtgever
- Dynamica en structurele analyse van 2D materialen (DYNASTY)Vanaf1 nov 2022 → HedenFinanciering: HORIZON.4.1 - Verbreding van participatie en versterking van de Europese Onderzoeksruimte
- Femtoseconde pulsatie laser microbewerking voor ingenieurs-, materialen- en katalyseonderzoek.Vanaf1 mei 2022 → HedenFinanciering: FWO Middelzware apparatuur
- 'Strain' gestabiliseerde perovskieten: een geïntegreerde onderzoeksaanpak van hetfundamentele niveau tot de toepassing in opto-electronica (PERsist).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: BOF - iBOF
- Elektronenstralen ter verbetering van de analytische microscopie (EBEAM).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: H2020-EU.1.2.- EXCELLEN SCIENCE - Toekomstige en Nieuwe Technologieën (FET)
- Geautomatiseerde elektronen diffractometer voor hoge doorvoer identificatie van nanokristallijne materialen.Vanaf1 okt 2020 → HedenFinanciering: FWO Strategisch Basisonderzoek (SBO)
- Big data elektronenspectroscopie: elektronische en optische eigenschappen van materialen op basis van grote impulsgeresolveerd EELS datasets.Vanaf1 okt 2020 → 30 sep 2023Financiering: FWO senior postdoctoraal mandaat
Publicaties
31 - 40 van 286
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies, part II(2022)
Auteurs: Daen Jannis, Abner Velazco Torrejón, Armand Béché, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 8 - Induced giant piezoelectricity in centrosymmetric oxides(2022)
Auteurs: D.-S. Park, M. Hadad, L.M. Riemer, R. Ignatans, D. Spirito, V. Esposito, V. Tileli, Nicolas Gauquelin, Daen Jannis, Johan Verbeeck, et al.
Pagina's: 653 - 657 - Resistance minimum in $LaAlO_{3}/Eu_{1-x}La_{x}TiO_{3}/SrTiO_{3}$ heterostructures(2022)
Auteurs: N. Lebedev, Y. Huang, A. Rana, Daen Jannis, Nicolas Gauquelin, Johan Verbeeck, J. Aarts
Pagina's: 1 - 10 - High-strain-induced local modification of the electronic properties of VO₂ thin films(2022)
Auteurs: Yorick A. Birkholzer, Kai Sotthewes, Nicolas Gauquelin, Lars Riekehr, Daen Jannis, Emma van der Minne, Yibin Bu, Johan Verbeeck, Harold J.W. Zandvliet, Gertjan Koster, et al.
Pagina's: 6020 - 6028 - Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector(2022)
Auteurs: Daen Jannis, C. Gao, X. Xie, Armand Béché, Timothy Pennycook, Johan Verbeeck
- Overcoming contrast reversals in focused probe ptychography of thick materials(2022)
Auteurs: Chuang Gao, Daen Jannis, Armand Béché, Johan Verbeeck, Timothy Pennycook
Pagina's: 1 - 6 - Signatures of enhanced out-of-plane polarization in asymmetric BaTiO3 superlattices integrated on silicon(2022)
Auteurs: Binbin Chen, Nicolas Gauquelin, Nives Strkalj, Sizhao Huang, Ufuk Halisdemir, Minh Duc Nguyen, Daen Jannis, Martin F. Sarott, Felix Eltes, Stefan Abel, et al.
Pagina's: 1 - 8 - On the formation mechanisms of intragranular shear bands in olivine by stress-induced amorphization(2022)
Auteurs: Hosni Idrissi, Armand Béché, Nicolas Gauquelin, Ihtasham Ul Haq, Caroline Bollinger, Sylvie Demouchy, Johan Verbeeck, Thomas Pardoen, Nick Schryvers, Patrick Cordier
Pagina's: 1 - 9 - Atomically engineered interfaces yield extraordinary electrostriction(2022)
Auteurs: Haiwu Zhang, Nini Pryds, Dae-Sung Park, Nicolas Gauquelin, Simone Santucci, Dennis, V. Christensen, Daen Jannis, Diana A. Rata, Andrea R. Insinga, Ivano E. Castelli, et al.
Pagina's: 695 - 700 - Real-time integration center of mass (riCOM) reconstruction for 4D STEM(2022)
Auteurs: Chu-Ping Yu, Thomas Friedrich, Daen Jannis, Sandra Van Aert, Johan Verbeeck
Pagina's: 1526 - 1537
Patenten
1 - 9 van 9
- Phase retrieval in electron microscopy (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
Gelinkte datasets
1 - 10 van 13
- Supplementary Information for "In-situ Plasma Studies using a Direct Current Microplasma in a Scanning Electron Microscope" (Creator)
- Core-loss EELS dataset and neural networks for element identification (Creator)
- Generalised oscillator strength for core-shell electron excitation by fast electrons based on Dirac solutions (Creator)
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies. part II – attempt towards an empirical model describing the damage process (Creator)
- Coincidence detection of EELS and EDX spectral events in the electron microscope (Creator)
- Coupling charge and topological reconstructions at polar oxide interfaces (Creator)
- Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwelltime and faster scans for high precision and low dose applications (Creator)
- Electron energy loss spectra of several organic compounds (Creator)
- Wide field of view crystal orientation mapping of layered materials (Creator)
- Block scanning strain measurement in Transmission electron microscope (Creator)