Onderzoeker
Johan Verbeeck
- Onderzoeksexpertise:Transmissie elektronenmicroscopie voor materiaalkunde Ontwikkeling van nieuwe meetprincipes met elektronenbundels Adaptieve optica met elektronenbundels Elektronen energieverlies spectroscopie
- Trefwoorden:ELEKTRONENMICROSCOPIE (TRANSMISSIE), ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY (EELS), Natuurkunde
- Disciplines:Astronomie en ruimtewetenschappen, Atoom- en moleculaire fysica, Klassieke fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Materiaalfysica, Mathematische fysica, Nucleaire fysica, Optische fysica, Fysica van gassen, plasma's en elektrische ladingen, Kwantumfysica, Andere fysica, Andere natuurwetenschappen
- Onderzoekstechnieken:TEM EELS EDX
- Gebruikers van onderzoeksexpertise:Academische onderzoekers Industriele O&O
Affiliaties
- Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf1 okt 2003 → Heden
Projecten
1 - 10 of 42
- Programma voor toegang tot onderzoeksfaciliteiten in nanowetenschap & nanotechnologie (RIANA)Vanaf1 mrt 2024 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Interoperabel elektronen microscopie platform voor geavanceerd onderzoek en dienstverlening (IMPRESS).Vanaf1 feb 2023 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Chemie 2.0: Grignard oppervlakmodificatie ontrafeldVanaf1 jan 2023 → HedenFinanciering: BOF - projecten
- EELS metingenVanaf1 dec 2022 → HedenFinanciering: Buitenl. publieke opdrachtgever
- Dynamica en structurele analyse van 2D materialen (DYNASTY)Vanaf1 nov 2022 → HedenFinanciering: HORIZON.4.1 - Verbreding van participatie en versterking van de Europese Onderzoeksruimte
- Femtoseconde pulsatie laser microbewerking voor ingenieurs-, materialen- en katalyseonderzoek.Vanaf1 mei 2022 → HedenFinanciering: FWO Middelzware apparatuur
- 'Strain' gestabiliseerde perovskieten: een geïntegreerde onderzoeksaanpak van hetfundamentele niveau tot de toepassing in opto-electronica (PERsist).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: BOF - iBOF
- Elektronenstralen ter verbetering van de analytische microscopie (EBEAM).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: H2020-EU.1.2.- EXCELLEN SCIENCE - Toekomstige en Nieuwe Technologieën (FET)
- Geautomatiseerde elektronen diffractometer voor hoge doorvoer identificatie van nanokristallijne materialen.Vanaf1 okt 2020 → HedenFinanciering: FWO Strategisch Basisonderzoek (SBO)
- Big data elektronenspectroscopie: elektronische en optische eigenschappen van materialen op basis van grote impulsgeresolveerd EELS datasets.Vanaf1 okt 2020 → 30 sep 2023Financiering: FWO senior postdoctoraal mandaat
Publicaties
1 - 10 van 286
- Photoluminescence of germanium-vacancy centers in nanocrystalline diamond films(2024)
Auteurs: Rani Mary Joy, Paulius Pobedinskas, Emilie Bourgeois, Tanmoy Chakraborty, Johannes Goerlitz, Dennis Herrmann, Celine Noel, Julia Heupel, Daen Jannis, Nicolas Gauquelin, et al.
Pagina's: 3873 - 3884 - Exploiting secondary electrons in transmission electron microscopy for 3D characterization of nanoparticle morphologies(2024)
Auteurs: Evgenii Vlasov, Sara Bals, Johan Verbeeck
Aantal pagina's: 118 - Stabilizing perovskite $Pb(Mg_{0.33}Nb_{0.67})O_{3}-PbTiO_{3}$ thin films by fast deposition and tensile mismatched growth template(2024)
Auteurs: Shu Ni, Evert Houwman, Nicolas Gauquelin, Sandra Van Aert, Johan Verbeeck, Guus Rijnders, Gertjan Koster
Pagina's: 12744 - 12753 - The effect of microstructure and film composition on the mechanical properties of linear antenna CVD diamond thin films(2024)
Auteurs: Rani Mary Joy, Paulius Pobedinskas, Nina Baule, Shengyuan Bai, Daen Jannis, Nicolas Gauquelin, Marie-Amandine Pinault-Thaury, Francois Jomard, Kamatchi Jothiramalingam Sankaran, Rozita Rouzbahani, et al.
Pagina's: 1 - 8 - In situ plasma studies using a direct current microplasma in a scanning electron microscope(2024)
Auteurs: Robin De Meyer, Andrey Orekhov, Sandra Van Aert, Annemie Bogaerts, Sara Bals, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 16 - Deep learning for automated materials characterisation in core-loss electron energy loss spectroscopy(2023)
Auteurs: Arno Annys, Daen Jannis, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 10 - Roadmap on structured waves(2023)
Auteurs: Konstantin Y. Bliokh, Ebrahim Karimi, Miles J. Padgett, Miguel A. Alonso, Mark R. Dennis, Angela Dudley, Andrew Forbes, Sina Zahedpour, Scott W. Hancock, Howard M. Milchberg, et al.
Pagina's: 1 - 79 - Characterization of a Timepix detector for use in SEM acceleration voltage range(2023)
Auteurs: Nikita Denisov, Daen Jannis, Andrey Orekhov, Knut Mueller-Caspary, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 6 - Quantum wavefront shaping with a 48-element programmable phase plate for electrons(2023)
Auteurs: Chu-Ping Yu, Francisco Vega Ibañez, Armand Béché, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 18 - Insights into the photoelectrocatalytic behavior of gCN-based anode materials supported on Ni foams(2023)
Auteurs: Serge Benedoue, Mattia Benedet, Alberto Gasparotto, Nicolas Gauquelin, Andrey Orekhov, Johan Verbeeck, Roberta Seraglia, Gioele Pagot, Gian Andrea Rizzi, Vincenzo Balzano, et al.
Pagina's: 1 - 15
Patenten
1 - 9 van 9
- Phase retrieval in electron microscopy (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
Gelinkte datasets
1 - 10 van 13
- Supplementary Information for "In-situ Plasma Studies using a Direct Current Microplasma in a Scanning Electron Microscope" (Creator)
- Core-loss EELS dataset and neural networks for element identification (Creator)
- Generalised oscillator strength for core-shell electron excitation by fast electrons based on Dirac solutions (Creator)
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies. part II – attempt towards an empirical model describing the damage process (Creator)
- Coincidence detection of EELS and EDX spectral events in the electron microscope (Creator)
- Coupling charge and topological reconstructions at polar oxide interfaces (Creator)
- Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwelltime and faster scans for high precision and low dose applications (Creator)
- Electron energy loss spectra of several organic compounds (Creator)
- Wide field of view crystal orientation mapping of layered materials (Creator)
- Block scanning strain measurement in Transmission electron microscope (Creator)