< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Machine Learning-based Defect Coverage Boosting of Analog Circuits under Measurement Variations
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
ISSN: 1084-4309
Issue: 5
Volume: 25
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:0.1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Private, Higher Education
Toegankelijkheid:Open