< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Nektar Xama
- Disciplines:Nanotechnologie, Sensoren, biosensoren en slimme sensoren, Andere elektrotechniek en elektronica, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Elektronische Circuits en Systemen (ECS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → Heden - Afdeling ESAT - MICAS, Micro-elektronica en Sensoren (Afdeling)
Lid
Vanaf1 feb 2015 → 31 jul 2020
Projecten
1 - 1 of 1
- Geautomatiseerde Ontwerp-voor-Testen en op Dataleren Gebaseerde Methodes voor het Testen van Analoge en Gemengd-Signaal Geïntegreerde SchakelingenVanaf6 okt 2016 → 15 dec 2023Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
Publicaties
1 - 10 van 16
- Boosting Latent Defect Coverage in Automotive Mixed-Signal ICs using SVM Classifiers(2023)
Auteurs: Nektar Xama, Jhon Alexander Gomez Caicedo, Georges Gielen
- DDtM: Increasing Latent Defect Detection in Analog/Mixed-Signal ICs Using the Difference in Distance to Mean Value(2022)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 4771 - 4781 - Experimental Validation of a Compact Pinhole Latent Defect Model for MOS Transistors(2022)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 4796 - 4802 - Quick Analyses for Improving Reliability and Functional Safety of Mixed-Signal ICs(2020)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
Aantal pagina's: 10 - Machine Learning-based Defect Coverage Boosting of Analog Circuits under Measurement Variations(2020)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
- Avoiding Mixed-Signal Field Returns by Outlier Detection of Hard-to-Detect Defects based on Multivariate Statistics(2020)
Auteurs: Jakob Raymaekers, Nektar Xama, Jhon Alexander Gomez Caicedo, Georges Gielen
Aantal pagina's: 6 - Latent Defect Screening with Visually-Enhanced Dynamic Part Average Testing(2020)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
Aantal pagina's: 6 - Pinhole Latent Defect Modeling and Simulation for Defect-Oriented Analog/Mixed-Signal Testing(2020)
Auteurs: Nektar Xama, Georges Gielen
Aantal pagina's: 6 - Applying Vstress and defect activation coverage to produce zero-defect mixed-signal automotive ICs(2019)
Auteurs: Nektar Xama, Jhon Alexander Gomez Caicedo, Georges Gielen
Aantal pagina's: 4 - Review of Methodologies for Pre- and Post-Silicon Analog Verification in Mixed-Signal SOCs(2019)
Auteurs: Georges Gielen, Nektar Xama
Pagina's: 1006 - 1009Aantal pagina's: 4