< Terug naar vorige pagina
Publicatie
A Physically Unclonable Function Using Soft Oxide Breakdown Featuring 0% Native BER and 51.8fJ/bit in 40nm CMOS
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Journal of Solid-State Circuits
ISSN: 0018-9200
Issue: 10
Volume: 54
Pagina's: 2765 - 2776
Jaar van publicatie:2019
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:3
CSS-citation score:2
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open