< Terug naar vorige pagina
Publicatie
High-Performance Radiation-Hardened Spintronic Retention Latch and Flip-Flop for Highly Reliable Processors
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
ISSN: 1530-4388
Issue: 2
Volume: 21
Pagina's: 258 - 266
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open