< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
ISSN: 0018-9499
Issue: 5
Volume: 68
Pagina's: 937 - 948
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:2
Auteurs:International
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Open