< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
ISSN: 0018-9499
Issue: 7
Volume: 66
Pagina's: 1465 - 1472
Jaar van publicatie:2019
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Closed