< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Surface characterization of InP trenches embedded in oxide using scanning probe microscopy
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Issue: 22
Volume: 118
Pagina's: 1 - 8
Jaar van publicatie:2015