Nanoscale Chemical Analysis Beyond the Diffraction Limit: AFM-IR and s-SNOM (AFM-IR AND S-SNOM) KU Leuven
Atoomkrachtmicroscopie-infraroodspectroscopie (AFM-IR)
is een analytische techniek die chemische karakterisering
van materialen mogelijk maakt met ruimtelijke resolutie op
nanometerschaal. In AFM-IR wordt IR-laserlicht gericht op
het gebied van het monster direct onder de punt van een
AFM. De absorptie van IR-straling door het monster
veroorzaakt lokale thermische uitzetting die wordt
gedetecteerd door de AFM-sonde. De apparatuur meet in
wezen IR-spectra van gebieden op nanometerschaal. Het
kan ook chemische samenstellingskaarten maken die de ...