Geautomatiseerde elektronen diffractometer voor highthroughput idenficatie van nanokristallijne materialen KU Leuven
De studie van de structuur van nanokristallijne materialen met standaard X-stralen diffractie is moeilijk voor sub micrometer deeltjes, en vooral als deze in gemengde vorm voorkomen. Dit wordt vaak opgelost door deze materialen te kristalliseren tot grotere kristallen, wat vaak problematisch en tijdrovend is. De beste eenkristal X-stralen diffractiemetingen vereisen bovendien een reis naar een synchrotron wat zorgt voor lange wachttijden ...