Optische karakterisering van 2D-metaaldichalcogeniden KU Leuven
Er zijn verschillende innovaties gedaan om de atomaire structuur of de mesogestructureerde van de materialen te verbeteren, d.w.z. scanning elektronenmicroscopie (SEM), atomic force microscopy (AFM), near-field scanning microscopie, röntgenmicroscopie, fluorescentiemicroscopie. Deze innovatieve methoden zijn geoptimaliseerd voor een duidelijk omschreven doel, maar deze methoden zijn niet zonder nadelen. Tweedimensionale (2D) overgangsmetaal ...