Samengefocuste ionenbundel (FIB) faciliteit voor nanofabricage en nanocharacterisatie. KU Leuven
Het dual beam FIB (focused ion beam) systeem laat toe preparaten op een gecontroleerde manier te modificeren, er materiaal van te verwijderen of er op te deponeren - met een precisie van enkele nanometer! Door het preparaat te bombarderen met een lage-energie gefocuste ionenbundel kan men namelijk nanostructuren met een specifieke vorm en afmeting creëren, de structuur ervan wijzigen of ze elektrisch isoleren van de omgeving. Bovendien kan ...