< Terug naar vorige pagina

Publicatie

The impact of self-heating and its implications on hot-carrier degradation-A modeling study

Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel

Tijdschrift: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714
Volume: 122
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open