< Terug naar vorige pagina

Publicatie

Impact of Mechanical Stress on 3-D NAND Flash Current Conduction

Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel

Tijdschrift: IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN: 0018-9383
Issue: 11
Volume: 67
Pagina's: 4891 - 4896
Aantal pagina's: 6
Jaar van publicatie:2020
Trefwoorden:Elektronica en elektrotechniek, Toegepaste natuurkunde