< Terug naar vorige pagina
Publicatie
The impact of extended defects on the generation and recombination lifetime in n type In.53Ga.47As
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: Journal of Physics D, Applied Physics
ISSN: 0022-3727
Issue: 48
Volume: 52
Jaar van publicatie:2019
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed