< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Demonstration of GaN Integrated Half-Bridge With On-Chip Drivers on 200-mm Engineered Substrates
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Electron Device Letters
ISSN: 0741-3106
Issue: 9
Volume: 40
Pagina's: 1499 - 1502
Jaar van publicatie:2019
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:3
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed