< Terug naar vorige pagina

Project

Variatie van Prestaties in Digitale Systemen: Applicatie Afhankelijke Modellering en Mitigatie

De continue dimensiereductie heeft een zeer grootschalige integratie van transistoren in elektronische circuits en chips mogelijk gemaakt. Het heeft echter ook geleid tot ongewenste neveneffecten, zoals een stijgende parametervariatie, die de prestaties van het electronische systeem verminderen en die de functionele werking ervan bedreigen. Vandaar de noodzaak om deze variatiemechanismen nauwkeurig te beschrijven en te modeleren, en om hun impact waar mogelijk te reduceren. In deze context zullen we ons richten op het modeleren en karakteriseren van deze variaties op een efficiënte en accurate wijze. Daarnaast ontwikkelen we een nieuw reele-tijd beheersysteem dat de variabiliteit van de prestaties kan mitigeren en dat de betrouwbaarheid van het globale electronische systeem kan garanderen. Eerst bestuderen we inherente betrouwbaarheidsfenomenen die de parametrische en functionele fouten in digitale electronische systemen veroorzaken. Bias-temperatuurinstabiliteit (BTI), Hot Carrier Injection (HCI), Random Dopand Fluctuation (RDF) zijn enkele dominante bedreigingen. Gebaseerd op de kennis van de onderliggende fysica, zullen we nauwkeurige en efficiënte modellen ontwikkelen of verfijnen om ze te beschrijven. Deze stap is nodig om de variabiliteit van de systeemprestaties daarna te verbeteren. Het belangrijkste doel van ons onderzoek is inderdaad om mitigatiemechanismen van prestatievariabiliteit te bestuderen en te ontwikkelen. Als gevolg hiervan kunnen we een nieuw risicobeheersysteem voorstellen dat een energie-efficiënte aanpak introduceert om de betrouwbaarheid van de systeemprestaties te beheren met het behoud van de nodige garanties.

Datum:22 nov 2017  →  Heden
Trefwoorden:Variability, Reliability, Dependability
Disciplines:Nanotechnologie, Ontwerptheorieën en -methoden
Project type:PhD project