< Terug naar vorige pagina

Project

Geavanceerde methodologie voor in-line elektrische karakterisatie van gedoteerde halfgeleiders in geconfineerde volumes.

Dit project stelt voor om eerst twee nieuwe metrologieoplossingen te ontwikkelen, evalueren en combineren om de elektrische eigenschappen van finFET's te meten zonder teststructuren te vereisen. Deze technieken hebben het voordeel dat ze in-line kunnen worden gebruikt, dat wil zeggen dat ze verdere verwerking mogelijk maken

Datum:1 nov 2016  →  Heden
Trefwoorden:magnetoresistance, 2D materials
Disciplines:Klassieke fysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Andere fysica, Toegepaste wiskunde, Kwantumfysica, Nucleaire fysica, Fysica en nanofysica van gecondenseerde materie, Onderwijskunde
Project type:PhD project