Onderzoeker
Wim Dewulf
- Disciplines:Dimensionale metrologie, Life cycle engineering
Affiliaties
- Maakprocessen en -Systemen (MaPS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 30 sep 2022 - Industrieel Beleid / Verkeer en Infrastructuur (CIB) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 30 sep 2013 - Werktuigkundige Industriële Ingenieurstechnieken, Campus Groep T Leuven (Technologiecluster)
Lid
Vanaf1 okt 2013 → 31 jul 2020
Projecten
1 - 10 of 54
- Ontwikkeling van geregulariseerde reconstructies voor industriële computertomografieVanaf29 nov 2023 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Computervisie en XRT beeldvorming ter bevordering van een circulaire economieVanaf7 nov 2023 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Autonome demanufacturing van batterij houdende productenVanaf1 okt 2023 → HedenFinanciering: IOF - technologie concept exploratie
- Effectiviteit en efficiëntie van broeikasgasreductiemaatregelen en hun effect op de voetafdruk van het eindproduct bij toekomstige onzekerheidVanaf27 feb 2023 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Ontwikkeling van een hybride data-driven / model-based regularisatiemethode voor X-stralen CT metrologieVanaf1 jan 2023 → HedenFinanciering: FWO Onderzoeksproject (incl. WEAVE projecten)
- Meten van capaciteiten en afstemmen van verwachtingen bij eerstejaars studenten Industriële IngenieurswetenschappenVanaf12 okt 2022 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Evaluatie van de productconditie met behulp van deep learning voor een circulaire economieVanaf15 sep 2022 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Het ontwikkelen van een nauwkeurig real-time Fringe Projectie systeem met een groot dynamisch bereik, voor het meten van semi-reflectieve objecten.Vanaf1 sep 2022 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Op CT gebaseerde procesplanning en bouwvoorbereiding voor AMVanaf27 jun 2022 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Bepaling van taakspecifieke meetonzekerheid veroorzaakt door geometrische uitlijnfoutenVanaf25 apr 2022 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
Publicaties
41 - 50 van 232
- Performance evaluation of an image-based measurement method used to determine the geometric errors of cone-beam CT instruments(2020)
Auteurs: Gabriel Probst, Wim Dewulf
- Grading system for post-consumer recycled plastics from WEEE(2020)
Auteurs: Florian Wagner, Ellen Bracquene, Jozefien De Keyzer, Joost Duflou, Wim Dewulf, Jef Peeters
Pagina's: 312 - 318 - A Deep Learning Product Label Identification Pipeline for Recycling and Repair(2020)
Auteurs: Wouter Sterkens, Dillam Diaz Romero, Toon Goedemé, Wim Dewulf, Jef Peeters
Pagina's: 492 - 499Aantal pagina's: 8 - Closed loop recycling of WEEE plastics: a case study for payment terminals(2020)
Auteurs: Florian Wagner, Jef Peeters, Jozefien De Keyzer, Joost Duflou, Wim Dewulf
Pagina's: 416 - 420 - Forecasting the EU recycling potential for batteries from electric vehicles(2020)
Auteurs: Mohammad Abdelbaky, Jef Peeters, Joost Duflou, Wim Dewulf
Pagina's: 432 - 436 - Techno-economic potential of recycling Tantalum containing capacitors by automated selective dismantling(2020)
Auteurs: Hans Ramon, Jef Peeters, Wouter Sterkens, Joost Duflou, Karel Kellens, Wim Dewulf
Pagina's: 421 - 425 - Closing material loops for plastics from Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE)(2020)
Auteurs: Florian Wagner, Wim Dewulf, Jozefien De Keyzer, Jef Peeters
- Quality assessment of mixed plastic flakes from Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE) by spectroscopic techniques(2020)
Auteurs: Florian Wagner, Jef Peeters, Hans Ramon, Jozefien De Keyzer, Joost Duflou, Wim Dewulf
- Investigation of the impact of various robot properties on a twin Robot-CT system(2020)
Auteurs: Risheng Kang, Gabriel Probst, Peter Slaets, Wim Dewulf
Pagina's: 276 - 286 - Measurement error model for laser line scanners(2020)
Auteurs: Michiel Vlaeyen, Bart Boeckmans, Han Haitjema, Wim Dewulf
Pagina's: 301 - 304Aantal pagina's: 4