Onderzoeker

Piet Van Espen

Onderzoeksexpertise:- Chemische en morfologische karakterisering van microscopische objecten met elektronenmicroscopie (SEM-EDX, EPXMA): * studie van deeltjespopulaties (poeders), bijv. 1000 deeltjes met diameter tussen 0.1 en 10 micrometer * onderzoek van kruitresten bij gerechtelijk onderzoek * onderzoek van materialen (breukvlakken, corrosieproducten) met een spatiale resolutie tot 1 micron. - Chemische analyse van hoogzuivere materialen (>99.9%) via vonkbronmassaspectrometrie. Van o.a. refractaire materialen zoals Mo en W is de bepaling van een 75-tal elementen mogelijk in het ppb gebied zonder monstervoorbereiding. - Oppervlakteanalyse via secundaire ionenmassaspectrometie (SIMS) - Interpretatie en modelleren van chemische data via PLS en tri-PLS, gebruik makend van robuuste methodes. - Monte Carlo simulatie van de interactie van elektronen en fotonen met materie. - Karakterisering van x-straaldetectoren en gammaspectrometrie

Trefwoorden:DEELTJESANALYSE, MICRO ANALYSE, CHEMOMETRIE, RONTGENFLUORESCENTIESPECTROMETRIE, OPPERVLAKTEANALYSE, Scheikunde

Disciplines:Analytische chemie, Keramische en glasmaterialen, Materialenwetenschappen en -techniek, Halfgeleidermaterialen, Andere materiaaltechnologie, Farmaceutische analyse en kwaliteitszorg

Onderzoekstechnieken:Elektronenprobe x-straal microanalyse (EPXMA) - JEOL 7300 Superprobe Raster elektronenmicroscopie met x-straaldetectie (SEM-EDX) - JEOL 6300 Dynamische en statische secundaire ionenmassaspectrometrie - Cameca IMS 3F - Cameca ION-TOF IV Vonkbronmassaspectrometrie - JEOL JMS-01BM-2 Energie-dispersieve x-stralenfluorescentie (ED-XRF): - Panalytical Epsilon V - Philips Minipal X-stralen- and Gammaspectrometrie - Verschillende detectoren (SiLi, HPGe, Si-PIN¿) en meetketens Software Matlab, EGS4, MCNP, PENELOPE

Gebruikers van onderzoeksexpertise:Onderzoekers in industriële onderzoeks- en productielaboratoria. Ontwikkelaars van nieuwe materialen Ontwikkelaars van x-straal analyseapparatuur Gerechtelijke onderzoekers