< Terug naar vorige pagina

Onderzoeker

Matthieu Boone

  • Trefwoorden:detectoren, tomografie, micro-CT, beeldvorming, beeldverwerking, X-stralen
  • Disciplines:Toegepaste en interdisciplinaire fysica, Andere fysica niet elders geclassificeerd, Toegepaste aspecten van de nucleaire fysica, Destructieve en niet-destructieve materiaaltesten, Semiconductor toepassingen, nanoelektronica en technologie, Beeldverwerking