< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Marc FUHRMANN
- Trefwoorden:Technische en toegepaste scheikunde
- Disciplines:Andere materiaaltechnologie niet elders geclassificeerd
Affiliaties
- Engineering Materials and Applications (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf16 mei 2019 → 15 feb 2024 - Industriële ingenieurswetenschappen (Departement)
Lid
Vanaf16 mei 2019 → 15 feb 2024 - Industriële Ingenieurswetenschappen (Faculteit)
Lid
Vanaf16 mei 2019 → 15 feb 2024 - Instituut voor Materiaalonderzoek (Onderzoeksinstituut)
Lid
Vanaf16 mei 2019 → 15 feb 2024 - Materialen en Verpakking Onderzoek en Dienstverlening (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf16 mei 2019 → 15 feb 2021
Publicaties
1 - 7 van 7
- Development of topography-independent methods for the measurement of long-range forces in atomic force microscopy(2024)
Auteurs: Marc FUHRMANN, Ronald THOELEN
Aantal pagina's: 142 - Determination of layer morphology of rough layers in organic light emitting diodes by X-ray reflectivity(2023)
Auteurs: Ian SACHS, Marc FUHRMANN, Wim DEFERME, Hildegard Moebius
- Determination of the dielectric constant of non-planar nanostructures and single nanoparticles by electrostatic force microscopy(2022)
Auteurs: Marc FUHRMANN, Anna Musyanovych, Ronald THOELEN, Hildegard Moebius
- Inkjet‐Printed Lenses with Adjustable Contact Angle to Improve the Light Out‐Coupling of Organic Light‐Emitting Diodes(2021)
Auteurs: Ian SACHS, Marc FUHRMANN, Inge VERBOVEN, Indranil BASAK, Wim DEFERME, Hildegard Moebius
- Magnetic Imaging of Encapsulated Superparamagnetic Nanoparticles by Data Fusion of Magnetic Force Microscopy and Atomic Force Microscopy Signals for Correction of Topographic Crosstalk(2020)
Auteurs: Marc FUHRMANN, Anna Musyanovych, Ronald THOELEN, Sibylle von Bomhard, Hildegard Moebius
- The Role of Nanoparticles on Topographic Cross‐Talk in Electric Force Microscopy and Magnetic Force Microscopy(2020)
Auteurs: Marc FUHRMANN, Alexander KRIVCOV, Anna Musyanovych, Ronald THOELEN, Hildegard Moebius
- Influence of dielectric layer thickness and roughness on topographic effects in magnetic force microscopy(2019)
Auteurs: Alexander KRIVCOV, Jasmin Ehrler, Marc FUHRMANN, Tanja JUNKERS, Hildegard Moebius
Pagina's: 1056 - 1064