Onderzoeker
Johan Verbeeck
- Onderzoeksexpertise:Transmissie elektronenmicroscopie voor materiaalkunde Ontwikkeling van nieuwe meetprincipes met elektronenbundels Adaptieve optica met elektronenbundels Elektronen energieverlies spectroscopie
- Trefwoorden:ELEKTRONENMICROSCOPIE (TRANSMISSIE), ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY (EELS), Natuurkunde
- Disciplines:Astronomie en ruimtewetenschappen, Atoom- en moleculaire fysica, Klassieke fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Materiaalfysica, Mathematische fysica, Nucleaire fysica, Optische fysica, Fysica van gassen, plasma's en elektrische ladingen, Kwantumfysica, Andere fysica, Andere natuurwetenschappen
- Onderzoekstechnieken:TEM EELS EDX
- Gebruikers van onderzoeksexpertise:Academische onderzoekers Industriele O&O
Affiliaties
- Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf1 okt 2003 → Heden
Projecten
1 - 10 of 42
- Programma voor toegang tot onderzoeksfaciliteiten in nanowetenschap & nanotechnologie (RIANA)Vanaf1 mrt 2024 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Interoperabel elektronen microscopie platform voor geavanceerd onderzoek en dienstverlening (IMPRESS).Vanaf1 feb 2023 → HedenFinanciering: HORIZON.1.3 - Onderzoeksinfrastructuur
- Chemie 2.0: Grignard oppervlakmodificatie ontrafeldVanaf1 jan 2023 → HedenFinanciering: BOF - projecten
- EELS metingenVanaf1 dec 2022 → HedenFinanciering: Buitenl. publieke opdrachtgever
- Dynamica en structurele analyse van 2D materialen (DYNASTY)Vanaf1 nov 2022 → HedenFinanciering: HORIZON.4.1 - Verbreding van participatie en versterking van de Europese Onderzoeksruimte
- Femtoseconde pulsatie laser microbewerking voor ingenieurs-, materialen- en katalyseonderzoek.Vanaf1 mei 2022 → HedenFinanciering: FWO Middelzware apparatuur
- 'Strain' gestabiliseerde perovskieten: een geïntegreerde onderzoeksaanpak van hetfundamentele niveau tot de toepassing in opto-electronica (PERsist).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: BOF - iBOF
- Elektronenstralen ter verbetering van de analytische microscopie (EBEAM).Vanaf1 jan 2021 → HedenFinanciering: H2020-EU.1.2.- EXCELLEN SCIENCE - Toekomstige en Nieuwe Technologieën (FET)
- Geautomatiseerde elektronen diffractometer voor hoge doorvoer identificatie van nanokristallijne materialen.Vanaf1 okt 2020 → HedenFinanciering: FWO Strategisch Basisonderzoek (SBO)
- Big data elektronenspectroscopie: elektronische en optische eigenschappen van materialen op basis van grote impulsgeresolveerd EELS datasets.Vanaf1 okt 2020 → 30 sep 2023Financiering: FWO senior postdoctoraal mandaat
Publicaties
181 - 190 van 286
- Shaping electron beams for the generation of innovative measurements in the (S)TEM(2014)
Auteurs: Johan Verbeeck, Giulio Guzzinati, Laura Clark, Roeland Juchtmans, Ruben Van Boxem, He Tian, Armand Béché, Axel Lubk, Staf Van Tendeloo
Pagina's: 190 - 199 - Measuring the orbital angular momentum of electron beams(2014)
Auteurs: Giulio Guzzinati, Laura Clark, Armand Béché, Johan Verbeeck
Pagina's: 1 - 5 - Using the macroscopic scale to predict the nano-scale behavior of YSZ thin films(2014)
Auteurs: J.S. Lamas, W.P. Leroy, Yinggang Lu, Johan Verbeeck, Staf Van Tendeloo, D. Depla
Pagina's: 45 - 50 - Creating arrays of electron vortices(2014)
Auteurs: T. Niermann, Johan Verbeeck, M. Lehmann
Pagina's: 165 - 170 - The effect of probe inaccuracies on the quantitative model-based analysis of high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy images(2014)
Auteurs: Gerardo Martinez Alanis, Annick De Backer, A. Rosenauer, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert
Pagina's: 57 - 63 - Toward deep blue nano hope diamonds(2014)
Auteurs: Steffen Heyer, Wiebke Janssen, Stuart Turner, Yinggang Lu, Weng Siang Yeap, Johan Verbeeck, Ken Haenen, Anke Krueger
Pagina's: 5757 - 5764 - Quantitative composition determination at the atomic level using model-based high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy(2014)
Auteurs: Gerardo Martinez Alanis, A. Rosenauer, Annick De Backer, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert
Pagina's: 12 - 19 - Direct structural and spectroscopic investigation of ultrathin films of tetragonal CuO: Six-fold coordinated copper(2014)
Auteurs: D. Samal, Haiyan Tan, Y. Takamura, W. Siemons, Johan Verbeeck, Staf Van Tendeloo, E. Arenholz, C.A. Jenkins, G. Rijnders, Gertjan Koster
Pagina's: 1 - 5 - Cation ordering and flexibility of the $BO_{4}^{2-}$ tetrahedra in incommensurately modulated $CaEu_{2}(BO_{4})_{4}$ (B = Mo, W) scheelites(2014)
Auteurs: Artem Abakumov, Vladimir Morozov, Alexander A. Tsirlin, Johan Verbeeck, Joke Hadermann
Pagina's: 9407 - 9415 - Plasmon mapping in Au@Ag nanocube assemblies(2014)
Auteurs: Bart Goris, Giulio Guzzinati, Cristina Fernández-López, Jorge Pérez-Juste, Luis M. Liz-Marzán, Andreas Trügler, Ulrich Hohenester, Johan Verbeeck, Sara Bals, Staf Van Tendeloo
Pagina's: 15356 - 15362
Patenten
1 - 9 van 9
- Phase retrieval in electron microscopy (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Spatial phase manipulation of charged particle beam (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Generation of charged particle vortex waves (Inventor)
- Charged particle vortex wave generation (Inventor)
Gelinkte datasets
1 - 10 van 13
- Supplementary Information for "In-situ Plasma Studies using a Direct Current Microplasma in a Scanning Electron Microscope" (Creator)
- Core-loss EELS dataset and neural networks for element identification (Creator)
- Generalised oscillator strength for core-shell electron excitation by fast electrons based on Dirac solutions (Creator)
- Reducing electron beam damage through alternative STEM scanning strategies. part II – attempt towards an empirical model describing the damage process (Creator)
- Coincidence detection of EELS and EDX spectral events in the electron microscope (Creator)
- Coupling charge and topological reconstructions at polar oxide interfaces (Creator)
- Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwelltime and faster scans for high precision and low dose applications (Creator)
- Electron energy loss spectra of several organic compounds (Creator)
- Wide field of view crystal orientation mapping of layered materials (Creator)
- Block scanning strain measurement in Transmission electron microscope (Creator)