< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Kristin De Meyer
- Disciplines:Nanotechnologie, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Geassocieerde Afdeling ESAT - INSYS (INSYS), Integrated Systems (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 30 sep 2020 - Geassocieerde Afdeling ESAT - INSYS, Integrated Systems (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2010 → 31 jul 2020 - Departement Elektrotechniek (ESAT) (Departement)
Lid
Vanaf1 okt 1999 → 31 jul 2010
Projecten
1 - 7 of 7
- Statistische analyse en modellering van selector-vrije niet-filamentaire resistieve RAMVanaf16 jun 2014 → 25 nov 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Verticale IIIV Poort Overal Nanoraad MOSFETs: Procesintegratie en Contact Resistance StudieVanaf20 jan 2014 → 4 sep 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Alternatieve kanaalmaterialen voor 3-D NAND geheugenVanaf15 apr 2013 → 4 sep 2017Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Verticaal Transistors: een glibberig pad naar het uiteindelijke CMOS schalenVanaf1 nov 2012 → 26 jan 2017Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Studie van zuurstof defecten in III-V MOS componenten met behulp van elektrische en wiskundige methodenVanaf1 okt 2012 → 28 okt 2016Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Gecombineerde tunnel en Raman spectroscopy in nanoporiën voor enkel molecuul analyse.Vanaf1 okt 2011 → 30 sep 2014Financiering: FWO mandaten
- Nano-Elektro-Mechanische relais (ontwerp, fabricage, en karakterisatie)Vanaf6 sep 2011 → 19 dec 2018Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
Publicaties
171 - 177 van 177
- Quantum Mechanical Performance Predictions of p-n-i-n Versus Pocketed Line Tunnel Field-Effect Transistors (vol 60, pg 2128, 2013)
Auteurs: Devin Verreck, Anne S Verhulst, Kuo-Hsing Kao, William G Vandenberghe, Kristin De Meyer, Guido Groeseneken
Pagina's: 3605 - 3605 - Statistical Analysis and Modeling of Selectorless Non-filamentary Resistive RAM
Auteurs: Subhali Subhechha Xxx, Kristin De Meyer, Jan Van Houdt
- Strain enhanced low-V-T CMOS featuring La/Al-doped HfSiO/TaC and 10ps invertor delay
Auteurs: Laura Nyns, Annelies Delabie, Kristin De Meyer
Pagina's: 130 - 131 - Novel process to pattern selectively dual dielectric capping layers using soft-mask only
Auteurs: Annelies Delabie, Kristin De Meyer
Pagina's: 44 - 45 - Experimental evaluation of trapping efficiency in silicon nitride based charge trapping memories
Auteurs: Amit Suhane, Antonio Arreghini, Geert Van den Bosch, Laurent Breuil, Antonio Cacciato, Aude Rothschild, Malgorzata Jurczak, Jan Van Houdt, Kristin De Meyer
Pagina's: 276 - 279 - Vertical III-V Gate-all-around Nanowire MOSFETs: Process Integration and Contact Resistance Study
Auteurs: Siva Ramesh, Kristin De Meyer, Nadine Collaert
- Capacitance reduction technique for through silicon via (TSV) in p-Si substrate
Auteurs: Guruprasad Katti, Kristin De Meyer, Wim Dehaene
Pagina's: 549 - 551