Onderzoeker

Armand Béché

Onderzoeksexpertise:Mijn onderzoeksgebied is geconcentreerd rond transmissie-elektronenmicroscopie (TEM) toegepast op materiaalkunde. Ik ben gespecialiseerd in een groot aantal technieken, waaronder spanningsmeting, beeldvorming met hoge resolutie, EELS-spectroscopie, manipulatie van de elektronenstraalfase en instrumentontwikkeling. Dankzij een achtergrond in engineering in materiaalkunde besteed ik mijn doctoraat aan het ontwikkelen van TEM-technieken voor het meten van rek op de nanoschaal die wordt toegepast voor micro-elektronische apparaten. Aan het einde van mijn doctoraat in 2009, kwam ik bij FEI (nu ThermoFisher Scientific) als toepassingsspecialist op TEM. Drie jaar later (2012) kwam ik bij de UA als postdoc, gewijd aan de ontwikkeling en implementatie van elektronenwervelbundels. Mijn onderwerp verschoof uiteindelijk naar de ontwikkeling van gecomprimeerde waarneming om bundelschade bij STEM-beeldvorming te verminderen. In 2017 werd ik verantwoordelijk voor het microscopiecentrum van de EMAT-groep.

Trefwoorden:RONTGENFLUORESCENTIESPECTROMETRIE, ELEKTRON DIFFRACTIE, MATERIAALWETENSCHAPPEN, SPANNING, HOLOGRAFIE (ELEKTRON), ELEKTRON TOMOGRAFIE, ELEKTRONENMICROSCOPIE, ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY (EELS), Natuurkunde

Disciplines:Atoom- en moleculaire fysica, Klassieke fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Materiaalfysica, Optische fysica, Kwantumfysica, Andere fysica

Onderzoekstechnieken:Transmissie elektronenmicroscopie: - High resolution imaging (TEM, STEM) met correctie - EELS met monochromatisch illuminatie - Electron holography - Electron tomography - Fase manipulatie and exotisch strall (vortex, Airy and Bessel beams...) - Compressed sensing en verschillende low dose mode Scanning electron microscopy Focus Ion Beam microscopy