< Terug naar vorige pagina

Project

NEAr-field meet TecHnieken voor het efficiënt oplossen van emc emissie problemen (NEATH)

Dit Project richt zich op het uitwerken, implementeren, testen en demonstreren van een industrieel bruikbare workflow op basis van diverse near-field meettechnieken om op efficiënte manier de root-cause van een EMC emissie probleem te vinden en kost-efficiënt op te lossen. Verder zal onderzocht en aangegeven worden hoe near-field technieken kunnen aangewend worden om vroeg in het ontwerpproces prototypes of (sub)modules te testen en te karakteriseren om latere problemen rond EMC, signaal- of vermogenintegriteit te vermijden.

Datum:1 okt 2012 →  30 sep 2015
Trefwoorden:EMC emissie
Disciplines:Elektronica