< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Design Margin Reduction Through Completion Detection in a 28-nm Near-Threshold DSP Processor
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Journal of Solid-State Circuits
ISSN: 0018-9200
Issue: 2
Volume: 57
Pagina's: 651 - 660
Jaar van publicatie:2022
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:3
CSS-citation score:1
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Open