< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Investigation of Microwave Loss Induced by Oxide Regrowth in High-Q Niobium Resonators
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: Physical Review Applied
ISSN: 2331-7019
Issue: 1
Volume: 16
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:2
CSS-citation score:2
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed