< Terug naar vorige pagina

Publicatie

Impact of Mechanical Stress on 3-D NAND Flash Current Conduction

Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel

Tijdschrift: IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN: 0018-9383
Issue: 11
Volume: 67
Pagina's: 4891 - 4896
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open