< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Analysis of Functional Errors Produced by Long-Term Workload-Dependent BTI Degradation in Ultralow Power Processors
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
ISSN: 1063-8210
Issue: 10
Volume: 28
Pagina's: 2122 - 2133
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open