< Terug naar vorige pagina

Publicatie

RF/High-Speed I/O ESD Protection: Co-optimizing Strategy Between BEOL Capacitance and HBM Immunity in Advanced CMOS Process

Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel

Tijdschrift: IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN: 0018-9383
Issue: 7
Volume: 67
Pagina's: 2752 - 2759
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed