< Terug naar vorige pagina

Publicatie

Exploiting Transistor Folding Layout as RHBD Technique Against Single-Event Transients

Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel

Tijdschrift: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
ISSN: 0018-9499
Issue: 7
Volume: 67
Pagina's: 1581 - 1589
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Open