Coïncidentie meetopstelling voor geavanceerde spectroscopie in transmissie elektronen microscopie.

Vele materialen rondom ons, vertonen eigenschappen die op gevoelige wijze afhangen van de aanwezigheid van vreemde atomen in een omgeving van een meerderheid aan andere atomen. Transmissie elektronen microscopie is een uiterst krachtige methode om de structuur van materialen zichtbaar te maken tot op atomaire schaal. Spectroscopische methoden laten bovendien toe om te bepalen welke atomen in het materiaal aanwezig zijn. Twee van deze methoden, EELS en EDX, worden vaak gebruikt en maken gebruik van excitaties van atomen die interageren met versnelde elektronen. Beide methoden hebben echter aanzienlijke tekortkomingen, vooral als het gaat om het verkrijgen van gedetailleerde informatie van minderheidsatomen in een materiaal. In dit project stellen we voor om gebruik te maken van recente ontwikkelingen in detectoren voor elektronen en X-stralen om de atomaire excitaties te meten op een tijdsgeresolveerde wijze. Dit zal ons toelaten om enkel die gebeurtenissen te filteren waarbij zowel een elektron als een X-straal gedetecteerd wordt op dezelfde tijd. Hiermee combineren we de goede eigenschappen van beide methodes en verbeteren we de spectroscopische mogelijkheden wanneer kleine hoeveelheden vreemde atomen aanwezig zijn in een omgeving van andere atomen. We zullen de voordelen van deze opstelling testen op relevante materialen voor de samenleving: moderne legeringen, materialen voor kwantum computers en halfgeleiders voor elektronica en fotovoltaïsche cellen.

Trefwoorden:ELEKTRONENMICROSCOPIE

Disciplines:Elektronische (transport)eigenschappen, Metrologie, Nanofysica en nanosystemen, Optische eigenschappen en stralingsinteracties, Spectroscopische methoden