< Terug naar vorige pagina
Publicatie
A Robust BBPLL-Based 0.18-μm CMOS Resistive Sensor Interface With High Drift Resilience Over a-40 °C-175 °C Temperature Range
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Journal of Solid-State Circuits
ISSN: 0018-9200
Issue: 7
Volume: 54
Pagina's: 1862 - 1873
Jaar van publicatie:2019
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:3
CSS-citation score:1
Authors from:Private, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed