< Terug naar vorige pagina

Publicatie

4U+03C0 microscopy immune to sample-induced dephasing

Boekbijdrage - Boekhoofdstuk Conferentiebijdrage

Ondertitel:4 pi microscopy immune to sample-induced dephasing

Boek: 2018 IEEE PHOTONICS CONFERENCE (IPC)

Pagina's: 259 - 260

ISBN:9781538653586

Jaar van publicatie:2018

Handle: http://hdl.handle.net/1854/LU-8582812
WoS Id: 000460542800104