< Terug naar vorige pagina

Project

FRET-type remote excitatie tip-enhanced fluorescentiemicroscopie voor super-resolutie DNA-mapping

Dit project zal een nieuwe FRET-type op afstand bekrachtigde punt-versterkte fluorescentie (RE-TEF) microscopie ontwikkelen om de huidige resolutiebarrière van 20 nm te doorbreken, het risico van onomkeerbaar uitdovingseffect van sondemoleculen te vermijden en om het te demonstreren in een hoge dichtheid optische DNA-mapping.

Datum:1 jan 2019 →  31 dec 2022
Trefwoorden:Surface engineering, DNA analysis technology
Disciplines:Genoomstructuur en -regulatie