< Terug naar vorige paginaPublicatie Modeling of uniform switching RRAM devices and impact of critical defects Tijdschriftbijdrage - TijdschriftartikelTijdschrift: MICROELECTRONIC ENGINEERINGISSN: 0167-9317Issue: 97Volume: 93Pagina's: 178Institutional Repository URL: https://lirias.kuleuven.be/1734479Auteurs/uitgeverSubhali Subhechha (First author)Robin Degraeve (Auteur)Philippe Roussel (Auteur)Ludovic Goux (Auteur)Sergiu Clima (Auteur)Christina De Meyer (Auteur)Jan Van Houdt (Auteur)Gouri Sankar Kar (Last author)OnderzoekseenhedenGeassocieerde Afdeling ESAT - INSYS, Integrated Systems(Afdeling)KU LeuvenAfdeling ESAT - TELEMIC, Telecommunicatie en Microgolven(Afdeling)KU Leuven
