< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Characterization of SiO2 nanoparticles by single particle-inductively coupled plasma-tandem mass spectrometry (SP-ICP-MS/MS)
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: JOURNAL OF ANALYTICAL ATOMIC SPECTROMETRY
ISSN: 1364-5544
Issue: 11
Volume: 32
Pagina's: 2140 - 2152
Jaar van publicatie:2017
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:2
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Closed