Locale ekektronenspektroscopie aan grensvlakken van laag dimensionale en heterogene vastestoffen

De voorgestelde aanvraag heeft als hoofddoelstelling om, aan de hand van interne fotoemissiespectroscopie, een meetmethode te ontwikkelen om de locale energietoestanden, werkfunctie of oppervlaktepotentiaal aan grensvlakken van laag-dimensionale en heterogene materialen te bepalen. Dankzij het aanbrengen van een nanometer-dunne isolatorlaag tussen de onderzochte materiaal electrode en een homogene referentie-electrode intenderen we de bepaling van de effective werkfunctieverschillen tussen nanometer-grote oppervlaktegebieden. Met behulp van deze methode kunnen we fundamentele problemem aanpakken zoals b v., de Smoluhchovsky golffunctiespreiding over atomaire stappen heen, of vragen beantwoorden i.v.m. eigenschappen van elektronische ontwerpen zoals b v., threshold spanningvariati es in transistoren of de degradatie van de cathode van ionbatterijen.

Trefwoorden:electron specttoscopy, thin films, Interface, internal photoemission, band offset, workfunction, electron barrier, electron injection

Disciplines:Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica