< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Annick De Backer
- Onderzoeksexpertise:Het onderzoek van Annick De Backer focust op nieuwe ontwikkelingen voor model-gebaseerde atomaire resolutie elektronenmicroscopie in twee en drie dimensies. Hierbij is het doel om nanostructuren kwantitatief te karakteriseren met de hoogst haalbare precisie met behulp van geavanceerde statistische technieken.
- Trefwoorden:BEELDVERWERKING, ELEKTRONENMICROSCOPIE (KWANTITATIEF), PARAMETERSCHATTING, STATISTISCHE DATA ANALYSE, NANOTCHNOLOGIE, FYSICA, VASTESTOFFYSICA, Natuurkunde
- Disciplines:Statistiek, Modellering en simulatie, Klassieke fysica niet elders geclassificeerd, Metrologie, Kwantumfysica niet elders geclassificeerd
- Onderzoekstechnieken:Er wordt gebruik gemaakt van statistische parameterschattingstheorie, beeldverwerking, statistische proefopzet en beeldvorming in elektronenmicroscopie.
- Gebruikers van onderzoeksexpertise:Materiaalkundigen, fysici, ingenieurs, biologen, geologen en andere wetenschappers die kwantitatieve informatie wensen te bekomen uitgaande van experimentele metingen, doen hun voordeel bij een modelgebaseerde analyse gebruikmakende van statistische parameterschattingstheorie. Zulk een analyse is voornamelijk van belang wanneer parameters bepaald moeten worden aan de grenzen van het fysisch meetbare.