< Terug naar vorige paginaOnderzoeker Craig SchultzTrefwoorden:Elektronica en elektrotechniekDisciplines:Ingenieurswetenschappen en technologieAffiliatiesElektronica en Informatica (Departement)LidVanaf1 mrt 2014 → 30 sep 2014Vrije Universiteit BrusselPublicaties1 - 1 van 1Comparison of spatial and aspatial logistic regression models for landmine risk mapping(2016)Auteurs: Craig Schultz, Aura Cecilia Alegria Caicedo, Jan Paul Herman Cornelis, Hichem SahliPagina's: 52-63