Onderzoeker
Annelies De wael
- Trefwoorden:Natuurkunde
- Disciplines:Atoom- en moleculaire fysica, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Elementaire deeltjesfysica en hoge-energie fysica, Kwantumfysica
Affiliaties
- Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf9 apr 2022 → 30 sep 2022 - Elektronenmicroscopie voor materiaalonderzoek (EMAT) (Onderzoeksgroep)
Lid
Vanaf1 okt 2016 → 8 apr 2022
Projecten
1 - 2 of 2
- Maximale structuurinformatie achterhalen voor stralingsgevoelige nanostructuren met lage dosis raster transmissieelektronenmicroscopie.Vanaf1 okt 2019 → 30 sep 2022Financiering: FWO mandaten
- Maximale structuurinformatie achterhalen voor stralingsgevoelige nanostructuren met lage dosis raster transmissie-elektronenmicroscopieVanaf1 okt 2017 → 30 sep 2019Financiering: FWO mandaten
Publicaties
1 - 8 van 8
- Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM(2023)
Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Chu-Ping Yu, Duygu Gizem Sentürk, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Christel FAES, Sandra Van Aert
Pagina's: 374 - 383 - Model-based quantitative scanning transmission electron microscopy for measuring dynamic structural changes at the atomic scale(2021)
Auteurs: Annelies De wael, Sandra Van Aert, Annick De Backer
Aantal pagina's: 146 - Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt(2021)
Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Sandra Van Aert
- Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature(2021)
Auteurs: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Pagina's: 1770 - 1776 - Measuring dynamic structural changes of nanoparticles at the atomic scale using scanning transmission electron microscopy(2020)
Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
- Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images(2020)
Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
- Hybrid statistics-simulations based method for atom-counting from ADF STEM images(2017)
Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Pagina's: 69 - 77 - Quantitative annular dark field scanning transmission electron microscopy for nanoparticle atom-counting(2015)
Auteurs: Annick De Backer, Annelies De wael, Julie Gonnissen, Gerardo Martinez Alanis, Armand Béché, K.E. MacArthur, L. Jones, P.D. Nellist, Sandra Van Aert
Pagina's: 1 - 4