Towards more complete and accurate behavioral models of microwave transistors.

Volledige en nauwkeurige niet-lineaire modellen van microgolftransistoren zijn essentieel voor het ontwerp van hoogfrequente elektronische schakelingen. Onder andere de gedragsmodellen of zwarte doos-modellen zijn zeer populair geworden in de gemeenschap van de microgolfingenieurs. De op-metingen-gebaseerde modellen in het bijzonder hebben tijdens het laatste decennium een enorme aandacht gekregen. Het doel van het onderzoek is tweevoudig, en bestaat uit: Het genereren van gedragsmodellen op basis van vectorieel gekalibreerde niet-lineaire meetsystemen. In tegenstelling met de bestaande benaderingen, zullen de modellen gegenereerd worden door het gebruik van niet-lineaire metingen bij zowel lage (kHz-MHz) als hoge (GHz) frequenties. Het bestuderen van de impact van meetonzekerheden op de model parameters. Dit vereist een voorafgaande analyse van de onzekerheid die niet lineaire meetsystemen beïnvloedt.

Trefwoorden:Nonlinear measurements, Nonlinear models, Microwave transistors, Measurement uncertainty

Disciplines:Thermodynamica