< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Anthony Coyette
- Disciplines:Nanotechnologie, Sensoren, biosensoren en slimme sensoren, Andere elektrotechniek en elektronica, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Elektronische Circuits en Systemen (ECS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 15 jan 2018 - Afdeling ESAT - MICAS, Micro-elektronica en Sensoren (Afdeling)
Lid
Vanaf10 sep 2012 → 15 jan 2018
Projecten
1 - 1 of 1
- Automatische defect-georiënteerde testgeneratie voor analoge en gemengd-signaal geïntegreerde schakelingenVanaf10 sep 2012 → 4 dec 2017Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
Publicaties
1 - 10 van 16
- Methodology Towards Sub-ppm Testing of Analog and Mixed-Signal ICs for Cyber-Physical Systems(2018)
Auteurs: Georges Gielen, Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama
Aantal pagina's: 4 - ADAGE: Automatic DfT-Assisted Generation of Test Stimuli for Mixed-Signal Integrated Circuits(2018)
Auteurs: Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 24 - 30 - An Automated Low-Cost Analog and Mixed-Signal DfT Method Using Testing Diodes(2018)
Auteurs: Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 15 - 23 - Non-intrusive detection of defects in mixed-signal integrated circuits using light activation(2018)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 7 - Automatic Testing of Analog ICs for Latent Defects using Topology Modification(2017)
Auteurs: Nektar Xama, Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 6 - A very low cost and highly parallel DfT method for analog and mixed-signal circuits(2017)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 2 - Effective DC fault models and testing approach for open defects in analog circuits(2017)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 9 - Automatic test signal generation for mixed-signal integrated circuits using circuit partitioning and interval analysis(2016)
Auteurs: Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Aantal pagina's: 10 - Automatic generation of test infrastructures for analog integrated circuits by controllability and observability co-optimization(2016)
Auteurs: Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Pagina's: 393 - 400 - Analog Fault Coverage Improvement using Final-Test Dynamic Part Average Testing(2016)
Auteurs: Anthony Coyette, Georges Gielen
Aantal pagina's: 9